X射线荧光测厚仪X-Strata920

井深式样品室可灵活的应用于测量较高的样品

开槽式设计适用于小样品也同样适用于细长样品

编程样品台可自动测量多个样品或单个样品上的不同测量位置

牛津仪器X-Strata920  X射线荧光镀层测厚仪

快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率

镀层测厚仪X-Strata920行业应用：

X-Strata920产品介绍------样品台选项

X-Strata920产品介绍------X射线管、准直器

Ø垂直下照式X射线光学系统

Ø50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管

Ø高计数率，改善分析精度

Ø到达更小的激发X射线束斑

多种型号规格的准直器

Ø单准直器组件；

Ø多准直器自动控制组件：最多可同时装配6种规格的准直器；

Ø圆形、矩形多种规格尺寸任选（红色常用）

X-Strata920工作原理

对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

X-Strata920工作特点

Ø测量元素范围：钛Ti22---铀U92；

Ø测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

Ø测量精度高、稳定性好，测量结果至μin；

Ø快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

Ø可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

Ø进行贵金属检测，如Au karat评价；

Ø材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

Ø强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、更大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

Ø结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

Ø测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

Ø激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；

Ø拥有NIST认证的标准片；

Ø提供全球服务及技术支持。

X-Strata920先进的系统安全性

X-Strata920的配置

ØX-Strata920测试主机

Ø联想ThinkCentre计算机（原IBM）------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包

Ø17吋戴尔Dell液晶显示器

Ø佳能Canon彩色喷墨打印机

Ø标准片组件（满足镀层需要）

X-Strata920三步即可获得测量结果

1 将产品放置在样品台上

Ø无损分析，无需样品制备

Ø开槽式样品仓便于放置产品

Ø超大样品台便于大面积产品（如：PCB）测量

Ø配备了门开闭传感器，增强了安全性

2 一键完成视频聚焦

Ø一键自动镭射聚焦，避免人为操作误差

Ø标配固定焦距12.7mm，选配变焦

Ø高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰、测试点精准定位；放大倍数：30倍（标配），50倍（选配）

Ø自动台：利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作

Ø简单快速的多点分析

3 一键完成测量

Ø几秒内显示结果

Ø保存、打印或传输结果

Ø测试结果可一键导出PDF（标配）、Excel（选配）

Ø使用预置和客户自定义的报告模板